Рефераты. Модернизация блока управления аппарата искусственной вентиляции легких "Спирон–201"

L=ålI=15,7857*10-6


Таблица 2.6.5. Плата управления индикацией

Наименование и тип элемента

Обозначение по чертежу

Количество

Ni

Интенсивность отказа при номинальном режиме

l0i *10-6 1/ч

Режим работы

Поправочный

Коэффициент


Аi

Интенсивность отказов i-го элемента


Аi * loi *10-6, 1/ч

Интенсивность отказа изделия

Из-за элементов i-го типа

Ni * Ai * loi * 10-6, 1/ч

Коэф-т нагрузки Кн

Температура рабочая Т,о С

Микросхемы:

К555ЛН1


К555ЛН2

К155ИД10


D1, D3, D5… D7

D2

D4


5


1

1


0,1


0,1

0,1


0,5


0,5

0,5

40

1

0,1


0,5


0,1

0,1

Резисторы:

С2–33Н – 0,25–1,6 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–2,2 кОм±5%-А-Д



С2–33Н – 0,25–1,3 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–560 кОм±5%-А-Д


С2–33Н-2–300 Ом±5%-А-Д



С2–33Н – 0,25–5,1 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–270 Ом±5%-А-Д



С2–33Н – 0,25–470 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–220 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–1,2 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–300Ом±5%-А-Д



С2–33Н – 0,25–4,7 кОм±5%-А-Д



С2–33Н – 0,25–3,0 кОм±5%-А-Д


С2–33Н – 0,25–240 кОм±5%-А-Д


R1

 


R2




R3



R4, R59



R5, R60

 

 

 

R6…R13

 

 

R14

 

 


R15…R17

 


R18…R24,

R39…R42, R47…R50

R43…R46

 


R25…R31

R51…R54



R32…R38

R55…R58

R74…R84

 


R61…R71

 

 

R72, R73


1



1




1



2



2




8



1




3




15


4



11





22




11



2


0,04



0,04




0,04



0,04



0,04




0,04



0,04




0,04




0,04


0,04



0,04





0,04




0,04



0,04


0,5



0,5




0,5



0,5



0,5




0,5



0,5




0,5




0,5


0,5



0,5





0,5




0,5



0,5


40



40




40



40



40




40



40




40




40


40



40





40




40



40


2,5



2,5




2,5



2,5



2,5




2,5



2,5




2,5




2,5


2,5



2,5





2,5




2,5



2,5


0,1



0,1




0,1



0,1



0,1




0,1



0,1




0,1




0,1


0,1



0,1





0,1




0,1



0,1


0,1



0,1




0,1



0,2



0,2




0,8



0,1




0,3




1,5


0,4



1,1





2,2




1,1



0,2

Конденсаторы:

К53–14–32В – 15,0 мкФ±30%


К73–11а-250В – 10,33 мкФ±10%


К73–11а-630В – 0,022 мкФ±10%


К73–11а-250В – 1,0 мкФ±10%


КМ-5б-Н90–0.1 мкФ±10%


С1



С2, С3

 

 

С4, С5

 


С6

 

 

С7…С13


1



2



2



1



7



0,6



0,035



0,035



0,035



0,6


0,56



0,9



0,9



0,9



0,9


40



40



40



40



2



0,9



0,9



0,9



0,7


1,2



0,0315



0,0315



0,0315



0,42


1,2



0,063



0,063



0,0315



2,94

Трансформатор

Транзистор КТ819В



Транзистор КТ605ЕМ



Диод полупроводниковый КД424А



Вилка СНП58–64/94х9В-23–2-Вилка Онп-ВС-39–16/40,5х62-В53

Пайка

Провода

T1

V1, V2

 

 

 

V12…V37

 

 

 

V4…V8

 

 

 

 

X1, X2

 

X3, X4

1

2




26




5





2


2



184

130

0,025

0,56




0,5




0,2





0,01


0,01



0,004

0,015

1

0,8




0,8




0,8





1


1



1

1

40

40




40




40





40


40


5,2

0,9




0,9




1,19





1


1



1

1

0,13

0,504




0.504




0,238





0,01


0,01



0,004

0,015

0,13

1,008




13,1




1,19





0,02


0,02



0,736

1,95

L=ålI=28,1*10-6

 

 


3. Технологическая часть

3.1 Разработка методики испытания микроконтроллера

 

3.1.1 Назначение и состав устройства для испытания

Устройство предназначено для статической и динамической проверки электрических плат построенных и разработанных для микропроцессорных систем.

Страницы: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18



2012 © Все права защищены
При использовании материалов активная ссылка на источник обязательна.